Darkfield Attachment

 

Specification:

คุณสมบัติเพื่อลดแสงสะท้อนจากไฟด้านล่างของกล้องจุลทรรศน์
ทำให้สามารถมองเห็นชิ้นงานได้ชัดเจนมากขึ้น